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          JZM-D30室溫探針臺(tái)技術(shù)參數(shù)

          更新時(shí)間:2023-11-20 點(diǎn)擊量:421

          概況:

          錦正茂JZM-D30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是專用的,探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。例如,要求的磁場型號(hào),電源型號(hào),磁場值,樣品臺(tái)的尺寸等,除此之外,該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙極性恒流電源搭配使用,可以提高磁場的高穩(wěn)定性。因此,該類型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。

          技術(shù)參數(shù):
          ※磁場型號(hào):EM3加長版
          ※電源型號(hào):JP10-40,優(yōu)于50ppm
          ※磁場值:>1000Gs@60mm間距
          ※磁場分辨率:優(yōu)于0.1Gs
          ※三維探針座:高精度三維探針座4個(gè)
          ※載物臺(tái)直徑:30mm
          Y軸位移-15mm200mm,精度優(yōu)于10微米
          X軸位移±15mm,精度優(yōu)于10微米
          Z軸行程10mm,精度優(yōu)于20微米
          R軸旋轉(zhuǎn):360度粗調(diào),±5°范圍內(nèi)精調(diào),精調(diào)精度10'
          顯微鏡:體視顯微鏡,變倍范圍優(yōu)于10-150
          ※機(jī)械加工精度優(yōu)于10微米。

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