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          探針臺(tái)選型應(yīng)該注意哪些事項(xiàng)

          更新時(shí)間:2023-10-18 點(diǎn)擊量:607

          探針臺(tái)是一種很專業(yè)的儀器,它主要的功能就是針對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測(cè),這里面說的半導(dǎo)體元件指的是集成電路,分立器件,光電器件,傳感器等元件以及封裝的測(cè)試。通過探針臺(tái)配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,電流,電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)??梢赃m用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,抽查檢測(cè)等;可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量,縮短研發(fā)時(shí)間和器件制作工藝的成本,所以,它的存在對(duì)于制造半導(dǎo)體的企業(yè)來說是非常重要的。 

          以下是探針臺(tái)選型注意事項(xiàng)

          zui大需要測(cè)幾inch的晶圓或者器件?是否需要測(cè)試破片或者單顆芯片,最小的單顆芯片尺寸?
          ※探針臺(tái)機(jī)械精度要求多高? 
          ※點(diǎn)測(cè)樣品的電極尺寸?100μm *100μm60μm *60μmpad,還是FIB制作的mini pad,或者ic內(nèi)部的metal線路? 
          ※最多需要幾個(gè)探針同時(shí)去點(diǎn)測(cè)? 
          ※是否會(huì)用到探針卡測(cè)試? 
          ※光學(xué)顯微鏡的最小分辨率需要用到多少? 
          ※顯微鏡方面,是否需要添加偏光片做LC液晶熱點(diǎn)偵測(cè)? 
          ※探針點(diǎn)測(cè)時(shí),對(duì)電流的要求否達(dá)到100fa或者以下?低電容要求否要做到0.1pf?是否有射頻需求? 

          ※接駁的測(cè)試儀器接口有哪些? 
          ※測(cè)試環(huán)境時(shí)是否會(huì)需要加熱或者降溫? 是否需要密閉腔體?
          ※對(duì)chuck的漏電要求怎樣?是否需要添加低阻抗chuck 
          ※是否需要防震桌? 
          ※若添置防震桌,是否有壓縮空氣?



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